Ausgabe zur LASER WORLD OF PHOTONICS 2019

4 MESSE HIGHLIGHTS Halle B2, Stand 315 High-Quality Optical Components Current product lines: polarization-maintaining fiber optics, lasers for machine vision and line scan cameras T he company Schäfter+ Kirchhoff GmbH is based in Hamburg, Germany, and was founded over 60 years ago. From here we manufacture high quality opto- mechanical and opto-electronic products that are delivered to customers all around the world. Schäfter+Kirchhoff GmbH is cer- tified according to the ISO 9001 standard. Our current product lines are: polarization-maintaining fiber op- tics, lasers for machine vision and line scan cameras. A special focus is set on the winning combination of high optical and high mechanical pre- cision, which is the basis for the high quality, stability and durabi- lity of our products. One example of successful opto-mechanics is the 60SMS laser beam coupler, which is used to couple into po- larization-maintaining fibers. This demanding task requires very high precision and quality in order to reach long-term stable and high coupling efficiencies. Another field of opto-mechanics is Machine Vision that uses laser line or spot generators as well as line scan cameras. Ruggedized solutions for industrial purposes are only possible by using high- quality optics, mechanics and elec- tronics. This is true for defined and thin laser line geometries or espe- cially small laser spots as well as complete line scan camera based scanner systems. In addition to individual com- ponents, we also offer image acquisition solutions for deman- ding applications. These scanner systems, which typically con- sist of camera, light source and translation or rotation unit, are custom-made and optimized for the respective application. Re- alized applications include the scanning of ice cores in polar re- search, the investiga-tion of cor- rosion phenomena on paints and inline solar cell inspection. The Corrosion Inspector, e.g., is an automated and ob jective analysis tool for corrosion phe- nomena that offers a fast and precise evaluation according to international norms. The line scan cameras used are also sup- plied as OEM compo-nents and offered with different interfaces. In addition, every scanner sys- tem has a suitable software for image evaluation, which is opti- mally adapted to the application requirements. Our extensive know-how and highly qualified, strongly com- mitted employees are the dri- ving force behind the company. To have sales, research and develop- ment, as well as manufacturing so closely knit together, ensures a quick and efficient res ponse to customer needs. Schäfter+Kirchhoff GmbH Kieler Str. 212 22525 Hamburg Tel: +49 40 85 39 97-0 Fax: +49 40 85 39 97-79 info@SuKHamburg.de www.SuKHamburg.com D ie AMETEK Germany GmbH (BU Zygo) ist die europäische Nie- derlassung der Zygo Corporation. Zygo Corporation ist ein weltweiter Anbieter von optischer Messtechnik, hoch prä- zisen Optiken und Optik Kompo- nenten. Unser Service beinhaltet ebenfalls die Konstruktion und Fertigung von komplexen elekt- ro-optischen Komponenten. Zwei unserer Messtechnik-Sys- teme möchten wir Ihnen in den folgenden Zeilen etwas genauer vorstellen. Kommen Sie uns auf der LASER Messe in München, Halle A2 Stand 409 besuchen und überzeugen Sie sich selbst. Verifire™ HD High Definition Interferometer-System mit QPSI™ Das Fizeau-Interferometersys- tem Verifire™ HD von ZYGO ermög- licht schnelle, lateral hochauflö- sende Formmessungen von ebenen oder sphärischen Oberflächen sowie die Messung der transmit- tierten Wellenfront von optischen Komponenten und Baugruppen. Die hohe Kameraauflösung und ein optimiertes optisches Design, erlaubt auch mittelfrequente Oberflächenmerkmale, die in der Vergangenheit schwer zu erken- nen waren, zuverlässig zu messen. Das mitgelieferte Softwarepa- ket Mx™ bietet die Möglichkeit, Oberflächenstrukturen mit einem leistungsstarken Power Spectral Density (PSD) – Tool zu quanti- fizieren. Im Fertigungsumfeld eli- miniert das von Zygo patentierte QPSI Messverfahren eine Beein- flussung des Messergebnisses durch typischerweise auftretende Vibrationen. Hauptmerkmale: • Ultra-Präzise Phasenmess- Interferometrie • Auswertung mittelfrequenter Oberflächenfehler • Zuverlässige Messung im Fertigungsumfeld durch QPSI • Langlebiger und leistungsstar- ker Zygo HeNe-Laser • Horizontaler oder vertikaler Aufbau Spezifikationen: • Kameraauflösungen bis 3392 x 3393 pxl (HDx) • RMS Wiederholgenauigkeit (einfach) < 0,06nm (2 sigma) • ITF > 0,7 @8.2 cyc/mm (HDx) • Polarisation: nominell zirkular (1,2:1 oder besser) • Messdauer: 130 – 300ms • Messapertur: 102/152mm (4“ / 6“) – Aufweitungen bis 812mm (32“) Nexview™ NX2 - Optisches 3D-Oberflächenprofilometer Der optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 wurde für die an- spruchsvollsten Anwendungen ent- wickelt und kombiniert besonders Sub-Nanometer-Präzision, fort- schrittliche Algorithmen, Anwen- dungsflexibilität und Automatisie- rung in einem einzigen Paket, und ist somit ZYGOs fortschrittlichster scannendes Weisslichtinterferome- ter (CSI) Profilometer. Die von Zygo patentierte Tech- nology misst eine größere Band- breite von Oberflächen schneller und präziser als andere vergleich- bare kommerziell erhältliche Tech- nologien. Mit den verschiedensten Anwendungen wie Ebenheit, Rau- heit, Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen usw. ist das Nexview NX2 für praktisch jede Oberfläche und jedes Material das kompro- misslose Profilometer. Hauptmerkmale: • Hochgeschwindigkeitsmessun- gen mit 1,9 MP Kamera • Automatisierte Teilefokussie- rung und -einstellung • Messmittelfähige Performance • Vibrationsresistente Messtechnik • SmartPSI™ -Technologie • 2D- und 3D-Korrelation nach ISO 25178 Spezifikation (ISO 25178-601, 25178-604 and 5436-1): • Oberflächenwiederholgenauig- keit von 0,06nm • RMS Wiederholgenauigkeit von 0,005nm • Optische lateral Auflösung bis 0,34µm • Messgeschwindigkeit bis 171µm/sek (@1000x200 Pixel) • Stufenhöhen Wiederholbarkeit von 0,1% • Stufenhöhen Genauigkeit von 0,3% www.zygo.de Halle A2, Stand 409 Messtechnik-Systeme, hoch präzise Optiken und Optik Komponenten Halle A2, Stand 413 Schnelle, winkelabhängige Charakterisierung von NIR-Emittern Polytec stellt zwei neue NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim vor E ldim entwickelte die Systeme für die Messung winkelabhängiger Eigen- schaften von NIR-Licht- quellen. Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Beide Geräte mes- sen berührungslos. Sie erzeu- gen mit einer einzigen Mes- sung ein vollständiges Abbild innerhalb des Betrachtungs- winkels von ±70° bzw. ±40° bei einer hervorragenden Winkelauflösung von 0,05°. Die Messdauer zur Charakte- risierung des Fernfeldes liegt unter einer halben Sekunde. Damit unterscheiden sie sich erheblich von herkömmlichen Methoden, die für vergleich- bare Messungen mit einem Go- niometer mindestens mehrere Stunden benötigen. Das VCProbe-NIR-STG dient der präzisen Analyse der Eigenschaf- ten von IRED-Punktprojektoren und Flächenstrahlern, wie sie in der 3D-Bildgebung mittels Stereo- skopie oder strukturiertem Licht eingesetzt werden. Das OFScope-NIR-DSD wurde speziell für LIDAR- und VCSEL- Komponenten entwickelt und misst bei Wellenlängen von 850, 905 und 940 nm und einem Arbeitsabstand von 30 mm. Die genaue Charakterisierung von NIR-Quellen wie Oberflächen- Emittern wird im LIDAR-Bereich zur Sensor-Analyse bei autonomen Fahrzeugen oder in der 3D-Ferner- kundung eingesetzt. Aber auch die NIR-basierte Gesichtserkennung, zum Beispiel in Smartphones oder sicherheitsrelevanten Banking- Anwendungen, kann durch diese Technologie perfektioniert werden. Apple setzt die Eldim-Systeme bei der Produktion des iPhone X zur Charakterisierung seiner Face-ID ein. Fast, angle-dependent characterisation of NIR emitters Polytec introduces two new systems for characterising NIR emitters from the manufacturer Eldim. E ldim developed the sys- tems to measure the angle-dependent proper- ties of NIR light sources. They can be used both in the R&D area and for quality control in production. Both systems fea- ture contactless measurement. With just a single measurement they generate a complete image within the viewing angle of ±70° or ±40° that provides an outstanding angular resolution of 0.05°. It takes less than half a second to measure and cha- racterise the far field, therefore they differ substantially from conventional methods which re- quire several hours at least for comparable measurements using a goniometer. The VCProbe-NIR-STG is used to produce an accurate analysis of the properties of IRED dot projectors and flood illuminators, as deployed in 3D imaging using stereoscopy or structured light. The OFScope-NIR-DSD has been specially developed for LIDAR and VCSEL components and measures wavelengths of 850, 905 and 940 nm at a working distance of 30 mm. The precise characterisation of NIR sources such as surface emitters is used in the LIDAR range for sen- sor analyses on driverless cars or in 3D remote sensing. NIR-based facial recognition, for example that used in smartphones or security-related banking applications, can also be perfected using this technology, however. Apple uses the Eldim sys- tems in the production of the iP- hone X to characterise its Face ID. www.polytec.de